福建省兆亨科技有限公司

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        廣東怎樣zeta電位及納米粒度儀售后服務(wù)

        發(fā)布時(shí)間:2025-01-07 06:02:49   來源:福建省兆亨科技有限公司   閱覽次數(shù):31114次   

        動(dòng)態(tài)光散射理論:粒子的擴(kuò)散效應(yīng):懸浮的粒子并不是靜止不動(dòng)的,相反,他們以布朗運(yùn)動(dòng)(Brownianmotion)的方式無規(guī)則的運(yùn)動(dòng),布朗運(yùn)動(dòng)主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達(dá)PMT檢測(cè)區(qū)的每一束散射光隨時(shí)間也呈無規(guī)則波動(dòng),這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導(dǎo)致的無規(guī)則波動(dòng)。因?yàn)檫@些光互相干涉在一起,在檢測(cè)器中檢測(cè)到的光強(qiáng)值就會(huì)隨時(shí)間而不斷波動(dòng)。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進(jìn)而產(chǎn)生有實(shí)際意義的波動(dòng),于是這些波動(dòng)在凈光強(qiáng)值上反應(yīng)出來。 DLS測(cè)量粒徑技術(shù)的關(guān)鍵物理概念是基于粒子的波動(dòng)時(shí)間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡(jiǎn)化這個(gè)概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的,具有相同的擴(kuò)散系數(shù)(diffusion coefficient)。分散體系中的小粒子運(yùn)動(dòng)的快,將會(huì)導(dǎo)致光強(qiáng)波動(dòng)信號(hào)變化很快;而相反地,大粒子擴(kuò)散地畢竟慢,導(dǎo)致了光強(qiáng)值的變化比較慢。對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。廣東怎樣zeta電位及納米粒度儀售后服務(wù)

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        產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測(cè)器(選配)Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測(cè)器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團(tuán),他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對(duì)光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊,在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測(cè)分析納米級(jí)顆粒的分布情況。五、380/MA多角度檢測(cè)器(選配)粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來增加粒子對(duì)光的敏感性來測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp380可以配備范圍在10°-175,步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器,從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品,通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè),改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。如何zeta電位及納米粒度儀哪個(gè)好五、380/MA多角度檢測(cè)器(選配) 粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。

        技術(shù)優(yōu)勢(shì)1、PMT高靈敏度檢測(cè)器;2、可搭配不同功率光源;3、雙列直插式電極和樣品池,可反復(fù)使用成千上萬次;4、鈀電極;5、精確度高,接近樣品真實(shí)值;6、復(fù)合型算法:高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換;相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換;7、快速檢測(cè),可以追溯歷史數(shù)據(jù);8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);9、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求;10、無需校準(zhǔn);11、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí);(1)可自動(dòng)稀釋模塊(選配);(2)搭配多角度檢測(cè)器(選配);(3)自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);

        Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理:粒度分布:動(dòng)態(tài)光散射儀(Dynamic Light Scattering,DLS)/ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS);檢測(cè)范圍:粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV;Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來,采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering,DLS)原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS)檢測(cè)ZETA電位。粒徑檢測(cè)范圍0.3nm–10μm,ZETA電位檢測(cè)范圍為+/-500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯(Gaussian)單峰算法的Nicomp多峰算法,對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個(gè)電極可以使用成千上萬次。另外,采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求。既保證檢測(cè)精度,亦幫用戶節(jié)省檢測(cè)成本。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論,提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。

        產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):一、模塊化設(shè)計(jì):Nicomp380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加,Nicomp380的功能體系越來越強(qiáng)大,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。二、自動(dòng)稀釋模塊(選配):自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差,且不需要人工不斷試錯(cuò)來獲得合適的測(cè)試濃度,這縮短了測(cè)試者寶貴時(shí)間,且無需培訓(xùn),測(cè)試結(jié)果重現(xiàn)性好,誤差率<1%。三、380/HPLD大功率激光器:美國(guó)PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中,考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測(cè)試條件中不同的需求,對(duì)不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對(duì)極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào),使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣,大功率激光器在測(cè)試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助,比如在檢測(cè)右旋糖酐大分子時(shí),折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?,?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減,測(cè)試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒有色譜分離,Nicomp380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布。廣東如何zeta電位及納米粒度儀價(jià)格

        隨著模塊的升級(jí)和增加,Nicomp 380的功能體系越來越強(qiáng)大,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。廣東怎樣zeta電位及納米粒度儀售后服務(wù)

        Nicomp380系列納米激光粒度儀專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案。工作原理:粒度分布:動(dòng)態(tài)光散射儀(Dynamic Light Scattering,DLS)/ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS);檢測(cè)范圍:粒徑范圍0.3nm-10.0μm/ZETA電位+/-500mV;Nicomp380Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來,采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering,DLS)原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS)檢測(cè)ZETA電位。粒徑檢測(cè)范圍0.3nm–10μm,ZETA電位檢測(cè)范圍為+/-500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯(Gaussian)單峰算法的Nicomp多峰算法,對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個(gè)電極可以使用成千上萬次。另外,采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求。既保證檢測(cè)精度,亦幫用戶節(jié)省檢測(cè)成本。廣東怎樣zeta電位及納米粒度儀售后服務(wù)

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